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SiC-Keramik
SiC-Kantenring für die Waferverarbeitung
SiC-Kantenring für die Waferverarbeitung

SiC-Kantenring für die Waferverarbeitung


Unser SiC-Kantenring (Siliziumkarbid) ist eine entscheidende Komponente für die Qualitätssicherung Ihrer Halbleiter-Waferprozesse. Er besteht aus hochreinem SiC (über 99.999 %) und wird mithilfe eines fortschrittlichen isostatischen Press- und Hochtemperatur-Sinterverfahrens (2100 °C – 2400 °C) hergestellt, um eine Dichte von über 3.10 g/cm³ zu erreichen. Die Oberfläche wird sorgfältig durch Diamantschleifen und -polieren auf eine extrem niedrige Rauheit von Ra < 0.1 µm veredelt, wodurch die Partikelbildung effektiv verhindert wird.

Beschreibung

Modernes SiC-Kantenring-Herstellungsverfahren

The fabrication of SiC edge rings is a complex and precise process. First, SiC raw material powder is rigorously purified to obtain high purity (>99.999%). This powder is then formed using isostatic or dry pressing. Next, it is sintered at temperatures between 2100°C and 2400°C to form a dense ceramic body. Subsequently, it is precision-finished using diamond grinding and polishing techniques to achieve extremely low surface roughness (Ra < 0.1 µm). Finally, it undergoes rigorous cleaning and particle inspection to ensure it meets the cleanliness standards of semiconductor manufacturing.

Anwendungen

Hauptanwendungen des SiC-Kantenrings

Der SiC-Kantenring spielt eine entscheidende Rolle bei kritischen Waferherstellungsschritten wie Ätzen und Abscheiden. Seine Hauptfunktion besteht darin, die Waferkante zu schützen, die Prozessgleichmäßigkeit über die gesamte Waferoberfläche sicherzustellen und die Lebensdauer der internen Kammerkomponenten zu verlängern.

Hier sind die wichtigsten Anwendungen:

Waferkantenschutz: Beim Plasmaätzen können ungeschützte Waferkanten eine andere Ätzrate aufweisen als der zentrale Bereich. Dies führt zu Parametern außerhalb der Spezifikation für Chips am Waferrand (Edge Die), was die Gesamtausbeute deutlich verringert. Der SiC Edge Ring fungiert als physikalische Barriere und unterdrückt den Plasmaeffekt am Rand effektiv, um eine gleichmäßige Bearbeitung von der Mitte bis zum Rand des Wafers zu gewährleisten.

Plasmaverteilungssteuerung: Bei plasmabasierten Prozessen wirken sich Dichte und Verteilung des Plasmas direkt auf das Endergebnis aus. Der SiC-Edge-Ring verändert die Randbedingungen des Plasmas in der Reaktionskammer und führt zu einer gleichmäßigeren Plasmaverteilung auf der Waferoberfläche. Dies ist entscheidend für Prozesse, die eine extrem hohe Gleichmäßigkeit erfordern, wie z. B. das Ätzen tiefer Gräben oder das Ätzen mehrschichtiger Dielektrika.

Kontaminationsprävention und Teilelebensdauer: Bei bestimmten Prozessen können sich Nebenprodukte und Ablagerungen am Waferrand bilden. Unkontrolliert können diese Materialien die Kammerwände, den elektrostatischen Chuck und andere teure Komponenten verunreinigen. Der SiC Edge Ring fängt diese Verunreinigungen effektiv auf und verhindert ihre Ausbreitung. Dadurch werden wertvolle Kammerteile geschützt und die Häufigkeit der Kammerreinigungen reduziert. Dies wiederum erhöht die Betriebszeit der Anlage.

Als ideales Verbrauchsmaterial für Plasmaätz- und Dünnschichtabscheidungsanlagen trägt unser SiC-Kantenring dazu bei, Waferrandeffekte zu eliminieren und sorgt für gleichmäßiges Ätzen und Abscheiden von der Mitte bis zum Rand. Er schützt außerdem teure Kammerkomponenten, reduziert Ablagerungen und verlängert die Betriebszeit der Anlage. Gleichzeitig leitet er Wärme effizient ab und sorgt für eine konstante Wafertemperatur bei Hochleistungsprozessen.

Mit dem Semixlab SiC Edge Ring entscheiden Sie sich für eine höhere Chipausbeute, stabilere Fertigungsprozesse und geringere Gerätewartungskosten. Wir freuen uns darauf, Ihnen maßgeschneiderte Produkte und technischen Support anbieten zu können. Wir freuen uns auf Ihre weiteren Anfragen.

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