CVD-SiC-Beschichtung Decke
Als führender chinesischer Hersteller von CVD-SiC-Beschichtungsdeckenkomponenten bietet Semixlab mit der CVD-SiC-Beschichtungsdecke eine Hochleistungskammerkomponente für moderne Halbleiterfertigungsumgebungen, einschließlich Epitaxie- (EPI) und CVD-Abscheidungsprozessen. Dank der hochreinen chemischen Gasphasenabscheidung von Siliziumkarbid bietet diese Deckenkomponente hervorragende Beständigkeit gegenüber hohen Temperaturen, korrosiven Prozesschemikalien und Plasmaeinwirkung bei gleichzeitig extrem niedrigen Partikel- und Metallverunreinigungswerten. Die CVD-SiC-Beschichtungsdecke wurde entwickelt, um stabile Kammerbedingungen und langfristige Prozessreproduzierbarkeit zu gewährleisten und spielt eine entscheidende Rolle für die Qualität des Epitaxiewachstums, die Gleichmäßigkeit der Abscheidung und die Anlagenverfügbarkeit. Wir freuen uns auf Ihre Anfrage.
Beschreibung
Bei Halbleiterepitaxie-Prozessen (EPI), insbesondere bei Silizium- und Siliziumkarbidepitaxie, sind die Bauteile der Kammerkonstruktion kontinuierlich extremen Temperaturschwankungen, hochreinem Wasserstoff und chlorhaltigen Vorläufern ausgesetzt. CVD-SiC-Beschichtungen bieten außergewöhnliche chemische Inertheit und thermische Stabilität und isolieren Kammerstrukturen effektiv von korrosiven Prozessgasen bei gleichzeitiger Minimierung der Partikelbildung. Ihre dichte, hochreine Mikrostruktur unterdrückt Metallverunreinigungen und verhindert den Abbau der Beschichtung während langer Produktionsläufe. Dies unterstützt direkt ein gleichmäßiges epitaktisches Schichtwachstum, einen stabilen Einbau von Dotierstoffen und eine geringe Defektdichte.
Bei CVD-Abscheidungsprozessen wie LPCVD und PECVD spielt die Kammerdecke eine entscheidende Rolle für die Aufrechterhaltung einer stabilen Kammerumgebung während wiederholter Abscheidungs- und Reinigungszyklen. Andernfalls können Prozessnebenprodukte und Filmablagerungen auf den Kammeroberflächen die Bauteilgenauigkeit und die Wiederholgenauigkeit im Betrieb erheblich beeinträchtigen. CVD-SiC-Beschichtungen weisen eine geringe Haftung an abgeschiedenen Filmen und eine ausgezeichnete Toleranz gegenüber fluor- und chlorbasierten Reinigungsmitteln auf, was eine effiziente In-situ-Reinigung ermöglicht und Delaminationen reduziert. Folglich werden die Gleichmäßigkeit der Filmdicke, die Prozesswiederholgenauigkeit und die Anlagenverfügbarkeit deutlich verbessert, insbesondere in der Serienfertigung.
Die CVD-SiC-Beschichtung von Semixlab für Decken vereint hohe Beschichtungsdichte, kontrollierbare Oberflächenrauheit und starke Haftung auf dem Substrat. Die thermische Ausdehnungskompatibilität zwischen der SiC-Beschichtung und dem Graphitsubstrat gewährleistet die mechanische Stabilität auch bei schnellen Temperaturwechseln und minimiert das Risiko von Rissen oder Delaminationen.
Im Vergleich zu herkömmlichen Quarz- oder Oxidmaterialien weist CVD-SiC eine deutlich höhere Beständigkeit gegenüber Plasma- und Wasserstoffätzung auf, was die Wartungsintervalle verlängert und die Gesamtbetriebskosten senkt. Diese CVD-SiC-Beschichtungsdecke ist für die Kompatibilität mit gängigen Halbleiterprozessanlagen konzipiert und gewährleistet so die Konsistenz zwischen den Kammern und den einzelnen Bauelementen – ein entscheidender Faktor für fortschrittliche Prozessknoten und Produktionslinien mit mehreren Bauelementen.
Als führendes Technologieunternehmen im Bereich der Halbleiterepitaxie in China bietet Semeixab der Halbleiterindustrie fortschrittliche Technologien und maßgeschneiderte Lösungen für CVD-SiC-Beschichtungen. Wir können die passenden Funktionen und Modelle unserer Produkte auf Ihre spezifischen Anforderungen abstimmen und so einen reibungslosen Produktionsablauf gewährleisten. Semeixab freut sich darauf, Ihr langfristiger Partner in China zu werden.
Spezifikationen
| Grundlegende physikalische Eigenschaften der CVD-SiC-Beschichtung | |
| Eigenschaft | Typischer Wert |
| Kristallstruktur | FCC β-Phase polykristallin, hauptsächlich (111) orientiert |
| Signaldichte | 3.21 g / cm³ |
| Härte | 2500 Vickershärte (500 g Belastung) |
| Korngröße | 2 ~ 10μm |
| Chemische Reinheit | 99.99995% |
| Wärmekapazität | 640 J·kg-1· K-1 |
| Sublimationstemperatur | 2700 ℃ |
| Biegefestigkeit | 415 MPa RT 4-Punkt |
| Elastizitätsmodul | 430 Gpa 4pt Biegung, 1300℃ |
| Wärmeleitfähigkeit | 300 W·m-1· K-1 |
| Wärmeausdehnung (CTE) | 4.5/10-6K-1 |
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