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CVD-Siliziumkarbid (SiC)-Beschichtung

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CVD-SiC-Beschichtungsdüse
CVD-SiC-Beschichtungsdüse

CVD-SiC-Beschichtungsdüse


Die CVD-SiC-Beschichtungsdüse wird aus einem hochdichten isostatischen Graphitsubstrat und einer dichten CVD-Siliciumcarbid-(SiC)-Beschichtung gefertigt. In epitaxialen Wachstumsprozessen wie der Si-Epitaxie, der SiC-Epitaxie und der MOCVD-Abscheidung spielt die Düse eine entscheidende Rolle bei der Zufuhr und Lenkung der Prozessgase in die Reaktionskammer. Durch die Gewährleistung eines stabilen Gasflusses und einer präzisen Verteilung trägt sie zu einem gleichmäßigen Wachstum der Epitaxieschichten und einer gleichbleibenden Waferqualität bei. Die Semixlab CVD-SiC-Beschichtungsdüse findet breite Anwendung in Epitaxiereaktoren, MOCVD-Systemen und Hochtemperatur-CVD-Anlagen. Wir freuen uns auf Ihre Anfrage.

Beschreibung

Die CVD-SiC-Beschichtungsdüse ist eine kritische Gaszufuhrkomponente in Halbleiter-Epitaxiereaktoren. Sie ist speziell so konstruiert, dass sie den hohen Temperaturen und chemisch korrosiven Umgebungen standhält, die üblicherweise bei Epitaxieprozessen auftreten.

Diese SiC-beschichtete Düse nutzt ein hochreines isostatisches Graphitsubstrat in Kombination mit einer dichten, mittels chemischer Gasphasenabscheidung (CVD) aufgebrachten Siliciumcarbid-Beschichtung (SiC). Das Graphitsubstrat bietet hervorragende Bearbeitbarkeit und thermische Stabilität, während die SiC-Beschichtung eine hochreine, chemisch inerte Schutzschicht bildet und so einen langfristig zuverlässigen Betrieb in anspruchsvollen Umgebungen der Halbleiterfertigung gewährleistet.

Die CVD-SiC-Beschichtungsdüse findet breite Anwendung in der Siliziumepitaxie, Siliziumkarbidepitaxie, Galliumnitrid-MOCVD und anderen fortschrittlichen Abscheidungssystemen, bei denen eine präzise Gasverteilung und Kontaminationskontrolle entscheidend für die Aufrechterhaltung der Prozessstabilität und der Waferausbeute sind.

Die Rolle von Düsen bei epitaktischen Halbleiterprozessen

In Epitaxiereaktoren müssen Prozessgase mit hoher Präzision in die Reaktionskammer eingeleitet werden, um ein gleichmäßiges Kristallwachstum zu erzielen. Düsen spielen dabei eine entscheidende Rolle bei der Zufuhr und Lenkung der Vorläufergase auf die Waferoberfläche.

Typische Gase, die über Düsen eingeleitet werden, sind:

● Silan (SiH₄)

● Trichlorsilan (TCS, SiHCl₃)

● Wasserstoff (H₂) als Trägergas

● Ammoniak (NH₃)

● Metallorganische Vorläufer in MOCVD-Systemen

Durch die Steuerung von Gasströmungsrichtung, -geschwindigkeit und -verteilung gewährleisten Düsen, dass die Reaktionsgase die Waferoberfläche unter stabilen, laminaren Strömungsbedingungen erreichen. Dies wirkt sich direkt auf wichtige Parameter aus:

● Gleichmäßigkeit der Epitaxieschichtdicke

● Dopingkonstanz

● Defektdichte auf dem Wafer

● Wiederholbarkeit des Gesamtprozesses

Daher gelten Düsen als unverzichtbare Komponenten für die Gaseinspritzung und die Durchflusskontrolle in Epitaxialkammern.

Spezifikationen
Grundlegende physikalische Eigenschaften der CVD-SiC-Beschichtung
Eigenschaft Typischer Wert
Kristallstruktur FCC β-Phase polykristallin, hauptsächlich (111) orientiert
Signaldichte 3.21 g / cm³
Härte 2500 Vickershärte (500 g Belastung)
Korngröße 2 ~ 10μm
Chemische Reinheit 99.99995%
Wärmekapazität 640 J·kg-1·K-1
Sublimationstemperatur 2700 ℃
Biegefestigkeit 415 MPa RT 4-Punkt
Elastizitätsmodul 430 Gpa 4pt Biegung, 1300℃
Wärmeleitfähigkeit 300W·m-1·K-1
Wärmeausdehnung (CTE) 4.5/10-6K-1
Anwendungen

Vorteile bei epitaxialen Wachstumsanwendungen

● Außergewöhnliche Korrosionsbeständigkeit

Epitaktische Wachstumsverfahren nutzen üblicherweise reaktive Gase wie Wasserstoff, chlorhaltige Verbindungen und Ammoniak. CVD-SiC-Beschichtungen weisen eine hervorragende Beständigkeit gegenüber diesen korrosiven Umgebungen auf, verhindern Materialabbau und gewährleisten einen stabilen Betrieb über lange Prozesszyklen.

● Hochtemperaturleistung

Epitaxiale Wachstumsprozesse finden typischerweise bei Temperaturen von über 1000 °C bis 1500 °C statt. SiC-Beschichtungen behalten unter diesen extremen Bedingungen ihre strukturelle Integrität und chemische Stabilität und gewährleisten so eine gleichbleibende und zuverlässige Leistung.

● Geringe Partikelerzeugung

Partikelverunreinigungen stellen ein großes Problem in der Halbleiterfertigung dar. Dichte, hochreine SiC-Beschichtungen minimieren Oberflächenerosion und Abplatzungen, tragen zur Aufrechterhaltung ultrareiner Reaktorumgebungen bei und schützen die Waferqualität.

● Verlängerte Lebensdauer der Geräte

Im Vergleich zu unbeschichteten Graphitbauteilen wirken SiC-Beschichtungen als Schutzbarriere und verlängern die Lebensdauer der Düsen deutlich. Dies reduziert den Wartungsaufwand, senkt die Austauschkosten und erhöht die Gesamtanlagenverfügbarkeit.

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